蔡司白皮書：藍光三維掃描，條紋投影的光學(xué)測量方法有什么優(yōu)勢？

您還在使用傳統(tǒng)的三坐標（CMM) 測量儀嗎？ 您想提高工作效率嗎？ 您想使用最新的高效率， 高精度， 適用于自由曲面數(shù)據(jù)獲取的光學(xué)測量系統(tǒng)嗎？

蔡司發(fā)布了一份藍光掃描白皮書，本份白皮書介紹最新技術(shù)： 德國ZEISS光電技術(shù)有限公司利用光柵投影原理研發(fā)生產(chǎn)的COMET系列三維光學(xué)掃描系統(tǒng)。


白皮書內(nèi)容包括：
白光光柵投影技術(shù)的工作原理。
光學(xué)測量系統(tǒng)為用戶帶來了什么改變？
光學(xué)三維數(shù)字化量測技術(shù)的突出優(yōu)勢。
三維光學(xué)掃描系統(tǒng)測量速度到底有多快？
三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的掃描質(zhì)量與精度值得期待！
三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？
如何避開三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的局限性，獲得最佳掃描結(jié)果。
實際應(yīng)用故事 。

創(chuàng)新的三維光學(xué)量測系統(tǒng)操作簡便， 用途廣泛，可大大簡化工作流程，提高質(zhì)量控制效率。使用三維光學(xué)掃描系統(tǒng)對被測件表面進行整體的三維數(shù)據(jù)采集，獲取表面細節(jié)部位的高精度三維數(shù)據(jù)。您可將之應(yīng)用于質(zhì)量控制-掃描數(shù)據(jù)與CAD數(shù)模進行比對；亦可用于逆向工程-快速獲取設(shè)計樣尺寸，生成CAD數(shù)模, 三維光學(xué)掃描系統(tǒng)讓您的業(yè)務(wù)更上一層樓！

光學(xué)非接觸式測量方法確保對易變形工件， 如泡沫件等，進行準確測量，避免了傳統(tǒng)的三坐標等（CMM） 接觸式測量方法因接觸被測件引起工件變形而影響測量結(jié)果。利用先進的光學(xué)非接觸式測量技術(shù)，您能更好的進行產(chǎn)品質(zhì)量控制，使自己產(chǎn)品的質(zhì)量勝人一籌，在市場競爭中贏得決定性的優(yōu)勢。請告訴您的合作伙伴和您的客戶，您使用最新科技的三維光學(xué)掃描技術(shù)進行高效率，高質(zhì)量的產(chǎn)品數(shù)據(jù)采集與產(chǎn)品質(zhì)量控制；將創(chuàng)新的三維光學(xué)掃描設(shè)備提供給您的操作人員，讓他們使用這款最新科技產(chǎn)品進行質(zhì)量控制工作，提高工作效率，減少工作壓力，提高工作滿意度！
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